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Y'sGOD山真 贴砖用 红色激光墨线 3轴水平仪
jfe-advantech面速超声波流量计
iotechnic水下噪音振动计
日本NIPPON DENSHOKU高敏粒子计数器 浊度仪
中国台湾new-flow压克力塑料流量计测量仪器
美国nordson点胶机
日本tlv 检漏仪
英国Avitronics蛋类卵生心率传感器仪器
tekhne在线露点仪半导体气体纯度控制露点计
Acroedge橡胶强度测试机 碳纤维拉力检测仪
Acroedge薄膜碳纤维材料拉伸试验机0.01mm
AcroEdge原位拉伸测试仪 薄膜双轴同步辐射
acroedge小型拉力试验机Stency 显微集成用
DeFelsko 自动拉拔附着力测试仪
Defelsko 附着力测试仪 自动液压涂层拉拔仪
Panasonic松下 半导体工厂专用黄光直管LED
松下直管LED黄色灯光源半导体用GX16t-5口金
东芝半导体工厂洁净室不易飞散树脂管光源灯
东芝LED灯管 黄色光源40形洁净室半导体厂用
TOSHIBA东芝LED直管灯黄光源半导体用防飞散
DAICO黄光手电筒 光刻胶不曝光 半导体Fab用
DAICO DHL608黄光灯 黄光室/光刻胶作业用
大塚OTSUKA Yamato玻璃塑料基材 薄膜测厚仪
大塚SM-100光学干涉法无损薄膜厚度测量仪
Yamato Scientific 膜厚计 涂层厚度检测仪
Otsuka Yamato智能膜厚计SM-100P Pro测厚仪
Profometer建筑腐蚀电位结构调查钢筋锈蚀仪
proceq建筑混凝土保护层钢筋直径方面测量仪
proceq建筑钢筋定位保护层厚度检测仪
ScreeningEagle桥梁隧道水泥建筑安全检测仪
瑞士Proceq新建建筑钢筋保护层质量控制仪
Profometer 建筑工程混凝土保护层测定仪
SCREEN VM-1020显微镜式光学干涉膜厚测量仪
SCREEN OLED/液晶/半导体晶圆检测用干涉仪
SCREEN 光干涉膜厚仪 2-12寸晶圆通用
日本关西电子 Survey meter 表面污染测量仪
藤原FUJIWARA 山中式土壤硬度计 土壤测定仪
日本MCT TI-100/TI200高速振動試料粉砕機
VIBRA新光电子土木建筑用电子秤GMWⅡ-12K
日本SKMIXER 蛋糕 西点 面团 搅拌机SK-20
KAMEKURA N-6500建筑混凝土测试锤 回弹仪
Sanyo日本 混凝土测试锤 建筑质量检测
Sanyo卫生纸面巾纸硬度检测仪LS/LSR试验机
Sanyo日本LS/LSR卷纸硬度试验用 锤试验机
美国Olson FTG-1桩基检测仪 建筑塔钻孔桩用
Sanyo维卡针装置 建筑水泥稠度初凝终凝测定
kansaikiki水泥建筑标准稠度凝结时间测定仪
日本 共振振动法无损检测Sanyo LC-674建筑
日本DENSO制冷系统泄漏用DLD-17冷媒检漏仪
日本 GL Sciences氦气氮气/气体泄漏检测仪
Hiresta-UX高抵率计MCP-HT800电阻仪
Nittoseiko Hiresta-UX MCP-HT800电阻仪
日本 高绝缘电阻仪 防静电与导电材料用
日本Nittoseiko抗静电材料陶瓷塑料用高阻计
日本1000V表面体积电阻率仪 半导体材料分析
日本 三菱化学 高精度电阻率仪 10³~10¹⁴Ω
日本 日东精工Nittoseiko Hiresta-UX高阻计
NihonSeiki热风发生装置BN-SJD350加热用
建筑kansaikiki混凝土压力试验机KC-376-A
日本Myzox红线激光水准仪P-410/110EX建筑用
日本Myzox G-440SR绿激光墨线水准仪 建筑用
日本tajima激光墨线仪GZASN-KJC建筑投线仪
日本INTECS超高輝度照明光源灯UIH-1C晶圆用
一次性识别多种塑料材质黑色可测 canon分选
日本 Canon 回收现场分选树脂材料环保循环
日本 Canon 拉曼光谱法黑色塑料分选判别仪
日本 台式塑料分选仪Canon TR-A100可识黑色
Placil日本 1秒以内固定式材质鉴别分选装置
日本YAMAMOTO塑料材质判别器TACT分选
深色/白色12种树脂塑料材料识别日本分选机
日本山本制作所Yamamoto塑料材质鉴别仪
kett日本VZ-390 VZ-380 HI-330用热敏打印机
英国Elcometer 331混凝土保护层厚度测量仪
日本kansaikiki-関西加压泌水试验机KC-253
日本佐藤SK SATO SK-960A电阻式水分检测仪
日本FUJITECOM DNR-18智能降噪漏水探测器
SEWWRIN德国EX-TEC SNOOPER 4燃气检漏仪
德国Sewerin Stethophon 04 室内漏水检测仪
SEWERIN德国VARIOTEC 460 氢气测漏仪
KETT日本 TZ-610混凝土筛分器HI-300/HI-330
美国FLIR成像式水分仪 红外热像仪IGM建筑用
日本KETT 细骨材表面水率 生混凝土水分计
FLIR美国MR40 双针单刻度湿度计 建筑水分计
日本KETT 即时纸张水分计 数字式水分测量仪以严格的品质控制作保证，提供一整套贴心周到的售后服务体系
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深圳九州工业品有限公司成立于2016年，坐落于年轻奋进的深圳市，是一家工业品综合服务商。主要包括机电设备、电子产品、仪器仪表、工业器材的销售及其它国内贸易、经营进出口等业务。联合搭建工业品供应链，采用与MRO分销商结盟的方式，把零散采购订单集中处理，流程简化，提供一站式供应服务。在美国、德国、日本、韩国、中国台湾建立采购中心，以专业国际采购团队、技术顾问、销售团队为各种领域提供各类品质的工业产品和整合服务。通过与厂家建立快捷、有效的沟通，和众多国外生产厂家建立了长久合作伙伴关系。
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2026
7-7针对硬质瓷砖的高效钻孔方案：呉英 G1-80 套装 (7020/7022系列) 深度拆解
在现代建筑装修与设备安装行业中，硬质瓷砖及致密石材的穿孔作业一直是施工人员面临的棘手难题。传统的冲击钻不仅噪音巨大，且强烈的振动极易导致脆性材质开裂，造成不可逆的损失。针对这一行业痛点，呉英製作所(Go-EiSeisakusho)推出的「水すまし」G1-80套装（涵盖7020/7022等系列型号），凭借其独特的“水循环无振动”技术，正在重新定义精密钻孔的标准。一、核心技术：为何它能实现“无振动”钻孔？与依靠锤击破碎的普通电锤不同，呉英G1-80的核心在于其水循环研磨系统。该设...2026
7-7TEKHNE TE-660系列：专攻-60℃超低露点 实现现场快速无误检测
在工业制造过程中，对气体中水分含量的精确控制是确保产品质量和生产安全的重要环节。TEKHNE（テクネ計測）推出的TE-660系列，旨在为压缩空气、塑料干燥等领域的水分管理提供测量方案。核心技术与功能TE-660系列的核心传感器采用高分子式原理，具备较快的响应速度。该系列产品能够测量低至-60℃的露点范围，适用于对干燥度要求较高的工业环境。为保证长期测量的稳定性，TE-660系列中的TE-660TR型号配备了自动校准功能，以减少因传感器漂移带来的测量误差。设备可显示露点、霜点以...2026
7-7从半导体到制药：Tekhne TK-100露点计如何满足对“干燥环境”的严苛要求？
在高科技制造与精密工业领域，环境中的微量水分往往是导致产品良率下降、设备腐蚀甚至生产安全事故的“隐形杀手”。无论是半导体晶圆的无氧制造，还是制药过程中的无菌环境，对“干燥”的要求都达到了一定的度了。作为日本国内开发、制造与校正的主力产品，Tekhne（テクネ計測）的TK-100静电容式露点计，凭借其优良的性能和广泛的适应性，成为了跨越半导体、制药等多个行业，实现严苛水分管理的核心工具。半导体与电子制造：守护“超干”核心在半导体、电池及光电制造领域，哪怕是极微量的水分，也可能导...2026
7-60.3μm悬浮微粒无处遁形：KLM-600FC黄光光源在半导体洁净室发尘源追踪实录
在半导体制造的精密世界里，光刻工艺被誉为芯片生产的“心脏”。随着制程节点不断向5nm、3nm甚至更小迈进，任何微小的环境波动都可能引发灾难性的后果。一颗0.2μm的颗粒落在掩模版或晶圆表面，就足以导致图案缺陷、断路或短路，让整片昂贵的芯片报废。因此，洁净室对颗粒物的控制达到了近乎苛刻的程度。然而，传统的粒子计数器虽然能给出浓度数据，却难以直观地定位污染源头。カトウ光研株式会社的KLM-600FC高亮度黄色荧光光源的引入，为半导体洁净室的发尘源追踪提供了一把“可视化利器”。0....2026
7-6半导体和风洞实验怎么做高清粒子可视化？KATO KOKEN KLM-600FC专用发光光源
一、两大行业粒子可视化现存痛点航空风洞流体实验、半导体无尘洁净检测，都需要精准捕捉微小粒子运动轨迹，传统照明方案缺陷明显：高功率Class4激光：成像清晰，但安全管控严苛，风洞实验室、无尘车间需配套防护区域，使用流程复杂；普通LED光源：光线均匀度差、穿透弱，无法完成高精度PIV测速，雾气环境成像模糊；白光照明：易被水汽反射干扰，粒子轨迹辨识度低，微小异物难以分辨。日本KATOKOKEN加藤光研推出KLM-600FC可视化荧光光源，以Class1安全等级实现对标Class4激...2026
7-6工业尺寸干涉测量找不到高相干光源？Anritsu波长扫描光源AQA/AQB5500P来了
一、行业痛点：为什么你的干涉测量总是"差之毫厘"？在精密制造、半导体加工、航空航天零部件检测等领域，工业尺寸干涉测量是实现微米甚至纳米级精度检测的核心手段。然而，许多工程师在实际应用中常常遇到这样的困境：光源相干性不足：普通激光光源相干长度有限，测量范围稍大就出现条纹模糊、信号衰减跳模导致测量中断：传统可调谐激光器在扫描过程中模式跳变，造成数据断点扫描速度跟不上产线节拍：低速扫描成为自动化检测的效率瓶颈系统集成复杂：需要额外搭建触发同步电路，增加开发周期问题的根源往往在于光源...
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