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日本mitakakohki半导体全周长三维测量仪MLP-3 非接触式全的方位轮廓测量：MLP-3 专门从事传统坐标测量机、投影仪和激光显微镜无法实现的复杂测量。点自动对焦探头和每个轴的控制（包括旋转）解决了困扰测量人员的问题。
更新时间：2024-08-24
日本orc半导体UV照射器VUM-3500 用途：消除闪存和其他非易失性存储器、图像传感器等的电荷和数据 特长 -采用最的适合去除电荷的254nm波长。 -因为是单一波长可使低温处理成为可能。 -采用低入射角UV光，可以有效到达对象区域。 -降低了LSI的不良率・提高了信赖性。
更新时间：2024-08-24
日本orc半导体光刻机 PPS-8200p1/8300p1 用途：支持各种应用 特长 -宽频谱光刻 (与菜单连动的 ghi线 gh线, i线的自动切换) -搭载可变NA功能 (可变为0.16和0.1) -最多8Field的拼接设计格式 -光学系统不受感光材挥发气体和周围环境中化学物质影响
更新时间：2024-08-24
日本microtec半导体丝网印刷机 MT-80SP 对应了各类硅片尺寸的承载盒对承载盒型的全自动硅片用丝网印刷机。 设备结构为：将承载盒（对应各类规格）装载至上料部，通过水平搬送机械臂自动取出后，进行预对位（缺口检测）并印刷，之后再次收纳至承载盒。可高精度全自动地进行焊接凸点及聚乙烯覆盖等的印刷。可选装进行FFU的设置。
更新时间：2024-08-24
日本 microscope3个同时视野 变焦显微镜YS05T 无需切换光路，3个同时视场，配备Ultra C接口 1.配备 1 个 C 接口的镜筒，非常适合连接数码相机和 iPhone。 2.同时三视新趋势 3.标准 Ultra C 安装座，具有齐焦/轴调节功能 4.总放大倍率为 6.7 倍至 45 倍的变焦体视显微镜
更新时间：2024-08-23
日本 microscope双目变倍体视显微镜MyDesk Zunta 2 总放大倍数7x~45x 支架臂型（还包括标准杆架） 照明带 LED 环形照明和电池供电
更新时间：2024-08-23
日本nykk在线露点仪6020 由于新软件的开发，露点计 6020 具有高度的灵活性和各种可自由配置的菜单驱动选项，允许在各种应用中连续监测露点测量，从高纯气体到该露点计适用于干燥空气、天然气等。此外，内置微处理器可进行精确的校准调整，传感器检测部分提供出色的灵敏度、重复性和响应速度，使其成为高度可靠的露点计。
更新时间：2024-08-23
日本nykk 便携式露点仪SADPmini 带 PPM 和 PPB 显示的便携式露点计 最新的便携式露点仪 SADPmini 可让您快速轻松地测量气体和干燥空气中的水分（露点）。 测量头与传统SHAW露点仪/SADP型一样，配备自动干燥室，测量完成后使传感器保持干燥状态并处于待机状态，以便随时进行露点测量。
更新时间：2024-08-23
日本 aandd天平隔振台AD-1671 在有振动的环境中使用分析电子天平时，我们建议使用隔振台。 ・机身尺寸：460mm x 400mm x 71mm ・体重：约27公斤 ・负载能力：约40公斤 ・材质：天然花岗岩 ・注意： 不可能完的全消除所有振动。
更新时间：2024-08-22
日本 rexxam清洗・干燥装置 台式型SCRD4 清洗・干燥装置是使用不会产生毛细管力・表面张力的超临界流体，可使超微细构件得到清洗・干燥且不会造成变形或破坏。 用途 1.连采用IPA（异丙醇）干燥都会受损的、具有超微细结构的晶圆。 2.具有纵横比较大的MEMS等微细结构的晶圆。 3.硅气凝胶那样具有纳米量级极细空间的材料制备。 4.加入添加剂、抗蚀剂等的溶解去除、剥离等。
更新时间：2024-08-22
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