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日本otsukael光谱分布测量系统 GP系列 通过光学方法可以进行非接触式和非破坏性的厚度测量。 实现高测量再现性 可实时高速监控抛光 实现了长 WD（工作距离）并且易于集成到设备中 从主机设备使用 LAN 通过 TCP/IP 通信进行控制 可以进行多层厚度测量 可测量临时晶圆（临时键合晶圆）各层厚度
更新时间：2024-07-12
日本otsukael光谱干涉式晶圆测厚仪SF-3 通过光学方法可以进行非接触式和非破坏性的厚度测量。 实现高测量再现性 可实时高速监控抛光 实现了长 WD（工作距离）并且易于集成到设备中 从主机设备使用 LAN 通过 TCP/IP 通信进行控制 可以进行多层厚度测量 可测量临时晶圆（临时键合晶圆）各层厚度
更新时间：2024-07-12
日本otsukael 显微分光膜厚仪OPTM系列 OPTM 是一种通过使用显微镜光谱测量微小区域的绝对反射率来实现高精度薄膜厚度和光学常数分析的设备。 各种薄膜、晶圆、光学材料等镀膜、多层膜厚度的无损、非接触测量。可以进行1秒/点的高速测量。此外，它配备了软件，即使是初次使用的用户也可以轻松分析光学常数。
更新时间：2024-07-12
日本otsukael 高灵敏度光谱辐射仪 HS-1000 能够测量从0.005cd/m2的超低亮度到400,000cd/ m2的高亮度 支持 CIE 推荐的宽波长范围（355nm 至 835nm） 专有光学系统减少了偏光误差 (1%)， 可以
更新时间：2024-07-12
日本otsukael多通道光谱仪 MCPD-9800/6800 这是一款涵盖紫外到近红外区域的多功能多通道光谱检测器。光谱测量可在短至 5 毫秒内完成。标准设备的光纤可用于各种测量系统，无需样品类型。除了显微光谱、光源发射和透射/反射测量外，它还可以与软件结合使用，用于物体颜色评估和薄膜厚度测量。能够从低亮度到高亮度进行高速、高精度测量的光谱辐射亮度计。
更新时间：2024-07-12
日本otsukael Zeta 电位/粒径测量系统 ELSZneoSE 可根据应用增加功能（分子量测量、颗粒浓度测量、微流变学测量、凝胶网络结构分析、粒径多角度测量）。 使用标准流通池连续测量粒径和 zeta 电位 可在从稀溶液到浓溶液（高达 40%）的宽浓度范围内测量粒径和 zeta 电位
更新时间：2024-07-12
日本otsukael 电位/粒径/分子量测量系统ELSZneo ELSZ 系列中的最高型号，除了可以测量稀溶液到浓溶液中的 zeta 电位和粒径外，还可以测量分子重量。作为一项新功能，多角度测量已被采用，以提高粒度分布的分辨率。它还可以进行颗粒浓度测量、微流变学测量和凝胶网络结构分析。 新型zeta电位平板电池单元具有新开发的高盐涂层，可以在盐水等高盐环境下进行测量。我们还有一系列超微量细胞单元，
更新时间：2024-07-12
日本napson晶圆平面度测量系统FLA-200 支持厚度测量、PN判断、温度测量（硅晶圆） 自检功能，测量范围广 厚度/周边位置/温度校正功能（电阻率（resistivity）测量） 可根据要求容纳任意数量的包埋盒。 *可选：通讯软件，兼容SMIF或FOUP
更新时间：2024-07-12
日本napson非接触式电阻计 EC-80 支持厚度测量、PN判断、温度测量（硅晶圆） 自检功能，测量范围广 厚度/周边位置/温度校正功能（电阻率（resistivity）测量） 可根据要求容纳任意数量的包埋盒。 *可选：通讯软件，兼容SMIF或FOUP
更新时间：2024-07-12
日本napson4探针法全自动测量分选机 WS-8800 支持厚度测量、PN判断、温度测量（硅晶圆） 自检功能，测量范围广 厚度/周边位置/温度校正功能（电阻率（resistivity）测量） 可根据要求容纳任意数量的包埋盒。 *可选：通讯软件，兼容SMIF或FOUP
更新时间：2024-07-12
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