日本microscope布氏测量显微镜

产品型号：YB
更新时间：2024-07-12

简要描述：日本microscope布氏测量显微镜YB
用于测量布氏硬度试验法“压痕直径"的显微镜。布氏硬度是一种测试方法，通过将硬质合金球的压头压入样品表面而产生的压痕尺寸来测量样品的硬度。
本产品是可随身携带的小型产品，与以往产品相比，刻度上的字符粗，线条长，一目了然，易于测量。此外，我们还应用了一种不会显示污垢的油漆。除布氏硬度试验法外，还可用于一般观察。
此外，我们还准备了一种明亮且长寿命的笔形 LE

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产品详情

品牌	其他品牌	产地类别	国产
应用领域	环保,化工,能源,电子,综合

日本microscope布氏测量显微镜YB

的介绍

深圳九州工业品有限公司成立于2016年，坐落于年轻奋进的深圳市，是一家工业品综合服务商。主要包括机电设备、电子产品、仪器仪表、工业器材的销售及其它国内贸易、经营进出口等业务。联合国际名品牌搭建工业品供应链，采用与 MRO分销商结盟的方式，把零散采购订单集中处理，流程简化，提供一站式供应服务。在美国、德国、日本、韩国、中国台湾建立采购中心，以流的专业国际采购团队、技术顾问、销售团队为各种领域提供各类高品质的工业产品和优质的整合服务。通过与厂家建立快捷、有效的沟通，和众多国外生产厂家建立了长久合作伙伴关系。

用于测量布氏硬度试验法“压痕直径"的显微镜。布氏硬度是一种测试方法，通过将硬质合金球的压头压入样品表面而产生的压痕尺寸来测量样品的硬度。
本产品是可随身携带的小型产品，与以往产品相比，刻度上的字符粗，线条长，一目了然，易于测量。此外，我们还应用了一种不会显示污垢的油漆。除布氏硬度试验法外，还可用于一般观察。
此外，我们还准备了一种明亮且长寿命的笔形 LED 灯作为另售的可选设备。可以用更明亮和更清晰的视野进行测量。

变更相机卡口，即可支持C 卡口、F 卡口。
可进行多种多样的观察（亮视野、偏光、微分干涉观察）
AF-WM 型耐振动，适合内置于装置中
・带观察筒的型号（IMZ-FB）的C型直筒和观察筒的光强比为50:50，因此可以同时观察目镜和监视器。
・使用辅助物镜（*），可以在从微观到宏观的广泛范围内使用。

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