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产品型号：SF-3
更新时间：2024-07-12简要描述：日本otsukael光谱干涉式晶圆测厚仪SF-3通过光学方法可以进行非接触式和非破坏性的厚度测量。实现高测量再现性可实时高速监控抛光实现了长 WD（工作距离）并且易于集成到设备中从主机设备使用 LAN 通过 TCP/IP 通信进行控制可以进行多层厚度测量可测量临时晶圆（临时键合晶圆）各层厚度
| 品牌 | 其他品牌 | 价格区间 | 20万-50万 |
|---|---|---|---|
| 产地类别 | 国产 | 应用领域 | 环保,化工,能源,电子,综合 |
日本otsukael光谱干涉式晶圆测厚仪SF-3
日本otsukael光谱干涉式晶圆测厚仪SF-3的介绍
深圳九州工业品有限公司成立于2016年，坐落于年轻奋进的深圳市，是一家工业品综合服务商。主要包括机电设备、电子产品、仪器仪表、工业器材的销售及其它国内贸易、经营进出口等业务。联合国际名品牌搭建工业品供应链，采用与 MRO分销商结盟的方式，把零散采购订单集中处理，流程简化，提供一站式供应服务。在美国、德国、日本、韩国、中国台湾建立采购中心，以流的专业国际采购团队、技术顾问、销售团队为各种领域提供各类高品质的工业产品和优质的整合服务。通过与厂家建立快捷、有效的沟通，和众多国外生产厂家建立了长久合作伙伴关系。
通过光学方法可以进行非接触式和非破坏性的厚度测量。
实现高测量再现性
可实时高速监控抛光
实现了长 WD（工作距离）并且易于集成到设备中
从主机设备使用 LAN 通过 TCP/IP 通信进行控制
可以进行多层厚度测量
可测量临时晶圆（临时键合晶圆）各层厚度
实现显微镜下宽测量波长范围（紫外到近红外）的光学系统
区域传感器安全机制
一个简单的分析向导，即使是初次使用的用户也可以进行光学常数分析
配备可自定义测量顺序的宏功能
也可以分析复杂的光学常数（多点分析法）
300mm载物台兼容
支持各种自定义
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