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photonic-lattice厚度/折射率分布椭偏仪

  • 产品型号:SE 系列
  • 更新时间:2024-07-11

简要描述:photonic-lattice厚度/折射率分布椭偏仪SE 系列
这是一款高速映射椭圆仪,可以测量 φ8″ 晶圆的整个表面(最大⌀300 mm 是可选的),可以高速和高密度测量 1 nm 或更小的膜厚度变化。它
支持各种膜厚分布测量。

产品详情
品牌其他品牌产地类别国产
应用领域环保,化工,能源,电子,综合

photonic-lattice厚度/折射率分布椭偏仪SE 系列

photonic-lattice厚度/折射率分布椭偏仪SE 系列

这是一款高速映射椭圆仪,可以测量 φ8″ 晶圆的整个表面(最大⌀300 mm 是可选的),可以高速和高密度测量 1 nm 或更小的膜厚度变化。它
支持各种膜厚分布测量。
从显微镜尺寸到大尺寸(约 50 cm),我们备有与测量对象相对应的产品系列

这是一款测量范围为 0 至 130 nm 的低相位差设备,它以 500 万像素的高分辨率高速测量双折射/相位差的分布。

一种可以在显微镜视野中测量双折射的类型。

附带的显微镜可以从奥林巴斯或尼康中选择。

PA-micro-S 是没有显微镜的只有测量头的产品。

这是一款测量范围为 0 至 130 nm 的低相位差设备,它以 500 万像素的高分辨率高速测量双折射/相位差的分布。

它是一种可以在线安装的类型,光源和测量台可以分开。

这是一款测量范围为 0 至 130 nm 的低相位差设备,它以 500 万像素的高分辨率高速测量双折射/相位差的分布。

它是一种可以在线安装的类型,光源和测量台可以分开。


photonic-lattice二维双折射评价系统PA-300系列







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