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otsukael 多分析物纳米颗粒尺寸测量系统 nanoSAQLA

更新时间:2024-07-26      浏览次数:92

多分析物纳米颗粒尺寸测量系统 nanoSAQLA


nanoSAQLA是采用动态光散射法(DLS法)的粒径测量装置(粒径0.6nm至10μm)。

配备进一步追求质量控制需求的各种功能。

一种新的光学系统,支持从稀释系统到浓缩系统的宽浓度范围内的多分析物测量,实验室的轻量化和紧凑设计,以及标准的 1 分钟高速测量。


此外,这款新产品是非浸入式的,不受污染影响,标配“5个样品连续测量",无需自动进样器。


特征:

用一台

 设备轻松连续测量 5 个样品 实现了多个样品的连续测量,这在没有自动进样器的情况下是困难的

 也可以通过改变每个样品的条件进行测量。

与稀释到浓缩系统兼容

标准测量时间:1分钟高速测量

 针对浓样品和稀样品自动调整最佳测量位置,实现约1分钟高速测量

配备简易测量功能(一键开始测量)

 软件简单易懂,无需复杂操作

内置非浸入式池块,消除污染,无需分液。每个

 池都是独立的,无需担心污染。

配备温度梯度功能

 ,方便温度设定


测量范围(理论值):

粒径0.6nm~10μm

浓度范围0.00001~40%

温度范围0~90℃*


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