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suragus用于单点测量的非接触式薄层电阻和层厚测量设备EddyCus lab 2020

更新时间:2024-04-02      浏览次数:145

EddyCus lab 2020系列–用于单点测量的非接触式薄层电阻和层厚测量设备

艾迪库斯实验室2020 系列允许以非接触模式手动单点测量导电薄膜和薄金属层的厚度。紧凑型台式设备非常适合快速准确地测量最大尺寸为200 x 200毫米(8 x 8英寸)的样品。除了测量薄导电层之外,还可以分析掺杂晶片和导电聚合物。

突出

  • 非接触式实时测量
  • 导电薄膜的精确测量
  • 隐藏和封装导电层的表征
  • 测量数据保存和导出功能



特征

  • 薄层电阻
  • 金属层厚度测量
  • 单点测量
  • 质量控制、输入和输出控制
  • 样本尺寸:10 x 10毫米至200 x 200毫米(0.5 x 0.5英寸至8 x 8英寸)
  • 测量范围:0.1欧姆/平方至10万欧姆/平方

应用程序

  • 涂层建筑玻璃,如劳
  • 显示器、触摸屏和平板显示器
  • 有机发光二极管和LED应用
  • 智能玻璃
  • 石墨烯层
  • 光伏晶片和电池
  • 半导体晶片
  • 金属化层和晶片金属化
  • 除冰和加热应用
  • 电池电极
  • 导电涂布纸和导电纺织品



突出

  • 非接触式实时测量
  • 导电薄膜的精确测量
  • 突出

  • 非接触式实时测量
  • 导电薄膜的精确测量
  • 隐藏和封装导电层的表征
  • 测量数据保存和导出功能
  • 隐藏和封装导电层的表征
  • 测量数据保存和导出功能


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