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更新时间：2024-01-30 
浏览次数：165HPGe
由于 QC 实验室的样品量非常小，我们选择了高纯度锗 (HPGe) 阱探测器，该探测器可提供高效率，因为样品实际上被有源探测器材料包围。
孔检测器采用盲孔制造，在孔底部留下至少 15 mm 的有源检测器厚度，并接近 4π 计数几何形状。
端盖中的井插入件由铝制成，侧壁厚度为 0.5 毫米，底部厚度为 1 毫米。与 0.5 mm 的铝相比，探测器元件上的离子注入触点薄到可以忽略不计，因此这些探测器本质上具有良好的低能量响应，允许光谱低至 20 keV。
由于锗具有相对较低的带隙，因此必须冷却这些探测器以减少载流子的热生成。
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