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ae-mic/AE-162E 用于超高速芯片电阻测试特征?

更新时间:2023-12-06      浏览次数:171

AE-162E 用于超高速芯片电阻测试

非常适合 D、F、G、J、K 级、片式、MELF、

径向和轴向电阻器的分选机和编带机。

兼容极小芯片(低功耗测量)

超高速0.7msec.(典型值)

热电动势抵消测量带来高精度和稳定性

通过每个量程的测量值积分时间设置功能,实现超高速和高稳定性测量。

%测量:±99.99% [5mΩ ~ 109MΩ]

绝对测量:0.00mΩ~200.00MΩ

接触检查:测量前/测量后/关闭可选

RS-232C接口标准设备(GP-IB可选)

打印机输出标准设备(Centronics兼容)

标准设置值传输功能:(相同的设置数据可以传输到另一台AE-162E以进行自动设置。)

标准配备测量电流/测量电压异常检查电路

兼容极小芯片(低功耗测量)

超高速0.7msec.(典型值)

热电动势抵消测量带来高精度和稳定性

通过每个量程的测量值积分时间设置功能,实现超高速和高稳定性测量。

%测量:±99.99% [5mΩ ~ 109MΩ]

绝对测量:0.00mΩ~200.00MΩ

接触检查:测量前/测量后/关闭可选

RS-232C接口标准设备(GP-IB可选)

打印机输出标准设备(Centronics兼容)

标准设置值传输功能:(相同的设置数据可以传输到另一台AE-162E以进行自动设置。)

标准配备测量电流/测量电压异常检查电路


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