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更新时间：2023-10-31 
浏览次数：232共焦色散测量系统用于快速距离和厚度测量。不同的传感器模型和控制器接口打开了通用的应用领域,例如。,在半导体工业、玻璃工业、医药工程和塑料生产.
高分辨率和测量率的距离和厚度测量
理想的自动化和生产控制
几乎表面独立,也适用于镜子和玻璃表面
极小且恒定的点位尺寸
纳米分辨率
具有理想信噪比的工业级控制器
被动测量系统
共焦色度测量原理使高精度位移和距离测量,即使在漫反射表面。由于测量点尺寸小,可以检测到很小的物体。轴向光束路径避免了阴影效应,使测量即使在袖子和凹。采用90°的版本,可以测量孔内和凹处的几何特征。
为了达到最大的精度,共焦传感器必须尽可能与测量对象垂直。可调整的安装适配器被用来化地将所有的共聚焦点传感器与目标相匹配。您还可以在机器安装后对传感器进行调整.工业适配器允许在X和Y-AX中的位移,以及将传感器倾斜到测量对象。
JMA厚度由两个可调安装适配器组成,并支持在双面厚度测量传感器的校准。这意味着测量点可以在光轴上设置绝对一致,从而确保可靠的厚度测量的最高精度。jma厚是理想的一体化的机器和生产工厂。预组装的安装板允许快速和容易的安装。
共焦色度测量原理使透明材料(如玻璃)的厚度测量成为可能。厚度值仅用一个传感器来检测千分尺的精度。控制器提供一个可编辑、可扩展的材料数据库。具体的物质参数,如折射率,可以适应使用网络接口。多峰测量能够对多达6个峰进行评价,这就是如何测量层压玻璃等多层物体。
共焦度传感器由被动元件组成,不产生热量。特别是在真空应用中使用,微型EPELIN提供的传感器,电缆和配件适合各自的规格(清洁室,真空超高真空超高压)。真空兼容传感器目前的测量范围为2.5毫米、3毫米、10毫米和28毫米。IFS2246-2,5传感器具有轴向或径向光束路径。
由于测量率高,必须使暴露量适应各自的表面。因此,该控制器动态调节CCD线的曝光。这种曝光控制补偿了测量对象的颜色和反射率的变化,以提高高测量率的测量精度。
来自微型爱皮隆的共焦传感器由于其高数值孔径(NA)而产生最小的光点<3欧皮姆。因此细节和结构可以可靠地检测出来。
共对焦度传感器能承受高达48度的大倾斜角。因此,可可靠地检测到弯曲和结构化的表面,以生成稳定的信号。
该控制器提供了一个优秀的信噪比,使测量高精度。它们是快的控制器之一,经常用于动态监测任务。快速表面补偿调节曝光周期,以实现高的信号稳定性,这特别有利于测量具有不同反射特性的表面。接口为RS422,以太网或以太猫和模拟。
由于使用方便的网络接口,整个配置过程不使用任何其他软件。可以通过以太网访问Web接口,并提供设置和配置选项。材料存储在可扩展材料数据库中。
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