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更新时间：2023-10-27 
浏览次数：182
用二维分布评估低相位差样品的应变,如半导体片、彩色玻璃和彩色丙烯酸树脂制品。
评估到大约。一分钟50x50毫米。
型号名称&t;
全自动应变眼
检查方法&t;
Nir旋转分析仪法
*全自动测量可减少测量者的工作和测量误差。
只需放置要测量的对象,然后单击测量按钮.利用内置相机捕捉的信息获得测量结果是可能的。由于不需要测量者的判断,因此这种判断所造成的测量错误被消除。
*这可以对半导体片、有色或透明产品、残余应力和裂纹进行应变评价,而这些都是用传统的偏振镜无法测量的。
*软件分析工具
二维分布图、任意设置区域的直方图、二维分布图的三维显示、测量结果的CSV存储和图像存储。这些功能包括在软件中。它们有助于分析评价结果。
*长寿和节能
高亮度LED被用作光源。这减少了与更换光源有关的维护时间和运行成本。
| 检查方法 | Nir旋转分析仪法 |
| 测量范围(约) | 0～150nm (Retardation) |
| 测量面积 | (approx.) 50×50mm |
| 测量对象放置空间(高度) | 最大160毫米 |
| 尺寸 | W300 ☓ D353 ☓ H540 mm |
| 重量 | 22千克 |
| 其他人 | 光源:高发光体 PowerSorce：AC100～240V 50/60Hz DC input 24V 1.6A 构成部分:主机、PC、电缆 附属物:主体罩 组织:窗口10专业(64位)日语/英语 |
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